การวิเคราะห์ความล้มเหลวโดยใช้การแยกแคปซูเลชั่นมีตำแหน่งที่โดดเด่นท่ามกลางเทคนิคการวิเคราะห์ความล้มเหลวสำหรับวงจรรวม อย่างไรก็ตามวิศวกรต้องใช้ความระมัดระวังในการใช้การถอดรหัสเนื่องจากจะทำให้แพคเกจไร้ประโยชน์และเทคนิคอื่น ๆ ก็ไร้ประโยชน์เช่นกัน ในแง่นั้นการวิเคราะห์ความล้มเหลวโดยใช้ failure analysis นั้นเป็นผลมาจากการใช้กล้องจุลทรรศน์หรือการถ่ายภาพรังสีเพื่อให้ผู้ทดสอบทราบว่าควรใช้เทคนิคการถอดรหัสแบบใด failure analysis หมายถึงการแยกวงจรรวมออกจากกันเพื่อตรวจสอบส่วนประกอบ

failure analysis ออกจากกันอาจทำลายส่วนของบรรจุภัณฑ์

ที่ต้องมีการตรวจสอบ ดังนั้นการวิเคราะห์โดยใช้การแยกส่วนหมายถึงการรู้อยู่แล้วว่าต้องตรวจสอบอะไร Decapsulation จะใช้วิธีการใด ๆ ในการเปิดบรรจุภัณฑ์ ช่วงเหล่านี้มีตั้งแต่การงัดพื้นผิวออกจากกันไปจนถึงการแกะสลักด้วยเลเซอร์หรือเจ็ท กระบวนการถอดรหัส IC บางอย่างเรียกร้องให้บรรจุหีบห่อได้รับความร้อนจากนั้นจึงบดส่วนประกอบออกจากกัน เทคนิคนี้จะทำลายลวดพันธะ แต่รักษาแม่พิมพ์ไว้ในขณะที่กระบวนการแกะสลัก (การแกะด้วยเลเซอร์การแกะด้วยมือหรือการกัดเจ็ท) มักจะทำลายแม่พิมพ์ การวิเคราะห์

โดยใช้การแยกแคปซูเลชั่นโดยการแกะสลักด้วยมือทำให้หีบห่อถูกกรดกัดกร่อนเพื่อกำจัดวัสดุพลาสติกที่หุ้มแม่พิมพ์ออก อาจใช้กรดต่างๆในกระบวนการนี้และบางครั้งกรดจะถูกนำไปใช้กับบรรจุภัณฑ์ ในกระบวนการอื่น ๆ บรรจุภัณฑ์อาจจมอยู่ในอ่างที่เป็นกรด แต่ไม่ว่าในกรณีใดกรดจะเผาพลาสติกและเปิดใช้งานการตรวจสอบบรรจุภัณฑ์ ‘ รูปแบบการวิเคราะห์ความล้มเหลวที่แม่นยำยิ่งขึ้นโดยใช้ failure analysis คือการกัดเจ็ท ในกระบวนการนี้เครื่องเจ็ตอีเทอร์จะปล่อยกรดออกมาที่ส่วนนั้นของบรรจุภัณฑ์เพื่อนำออกในขณะที่ส่วนที่เหลือได้รับการปกป้องด้วยโล่

การวิเคราะห์ความล้มเหลวโดยใช้การแยกแคปซูเลชั่น

โดยการกัดเจ็ทนั้นยุ่งน้อยกว่าและมีประสิทธิภาพมากกว่า แต่ก็ยังทำให้แพ็กเกจใช้ไม่ได้ นอกเหนือจากแง่มุมแบบเรียลไทม์ที่เกี่ยวข้องกับการดำเนินการ failure analysis แล้วเอกสารเป็นสิ่งสำคัญมากในการสื่อสารผลการวิเคราะห์ความล้มเหลวกับลูกค้าทนายความ ฯลฯ failure analysis ที่ทันสมัยช่วยให้สามารถจัดทำเอกสารภาพถ่ายดิจิทัลที่สามารถรวมถึงการติดฉลากเฉพาะและแม้แต่การวัดทางเรขาคณิตที่สำคัญ คุณสมบัติ นอกจากนี้หลายคนหากไม่ใช่ SEM ส่วนใหญ่มีความสามารถในการวิเคราะห์ทางเคมี Energy Dispersive Spectroscopy (EDS)

พื้นที่หรือแม้แต่อนุภาคเฉพาะที่น่าสนใจสามารถวิเคราะห์ได้โดยใช้ระบบ ในขณะที่กำลังตรวจสอบตัวอย่างด้วยกำลังขยายสูง สามารถสร้างสเปกตรัม failure analysis ซึ่งบ่งบอกถึงการแต่งหน้าทางเคมีทั่วไปของพื้นที่ (หรืออนุภาค) ที่สนใจ สเปกตรัมยังสามารถใช้ในรายงานการวิเคราะห์ความล้มเหลวขั้นสุดท้ายเมื่อองค์ประกอบทางเคมีมีความสำคัญ โดยปกติข้อมูลและข้อมูลทั้งหมดที่รวบรวมในระหว่างการตรวจ failure analysis จะรวมกับการประเมินอื่น ๆ ที่ดำเนินการในระหว่างการวิเคราะห์ความล้มเหลวและนำเสนอในรายงานการทดสอบอย่างเป็นทางการโดยละเอียด